QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀

簡要描述：QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。

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QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。

QVH4APEX302Pro非接觸式位移傳感器的CNC影像測量機ss002.jpg

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產品特點與優勢

HYPER QV WLI配備白光干涉儀的復合型高精度3D測量系統。

可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。

產品陣容

型號

測量范圍：

X軸最大（mm） Y軸最大（mm） Z軸最大（mm）

Hyper QVWLI 302 300 200 190

Hyper QVWLI 404 400 400 240

Hyper QVWLI 606 600 650 220

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